<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Электронный научно-практический журнал «Современная техника и технологии» &#187; pollution</title>
	<atom:link href="http://technology.snauka.ru/tags/pollution/feed" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://technology.snauka.ru</link>
	<description></description>
	<lastBuildDate>Fri, 30 Jan 2026 18:56:12 +0000</lastBuildDate>
	<language>ru</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.2.1</generator>
		<item>
		<title>Разработка технологического маршрута очистки полупроводниковых пластин для микроэлектронных изделий</title>
		<link>https://technology.snauka.ru/2015/01/5408</link>
		<comments>https://technology.snauka.ru/2015/01/5408#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 07 Jan 2015 14:55:16 +0000</pubDate>
		<dc:creator>Яна Сычикова</dc:creator>
				<category><![CDATA[Общая рубрика]]></category>
		<category><![CDATA[cleaning]]></category>
		<category><![CDATA[polishing]]></category>
		<category><![CDATA[pollution]]></category>
		<category><![CDATA[semiconductor]]></category>
		<category><![CDATA[загрязнение]]></category>
		<category><![CDATA[очистка]]></category>
		<category><![CDATA[полировка]]></category>
		<category><![CDATA[полупроводник]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://technology.snauka.ru/?p=5408</guid>
		<description><![CDATA[От состояния поверхности полупроводника, его дефектности, зависит совершенство структуры эпитаксиальных слоев, выращиваемых на нее при изготовлении изделий [1, c. 32]. Размеры приповерхностной дефектной области могут достигать десятков и сотен микрометров, поэтому актуальной задачей полупроводникового приборостроения является разработка технологического маршрута подготовки полупроводниковых пластин. Одной из главных задач полупроводниковой техники является изготовление надежных приборов, способных работать в [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>От состояния поверхности полупроводника, его дефектности, зависит совершенство структуры эпитаксиальных слоев, выращиваемых на нее при изготовлении изделий [1, c. 32]. Размеры приповерхностной дефектной области могут достигать десятков и сотен микрометров, поэтому актуальной задачей полупроводникового приборостроения является разработка технологического маршрута подготовки полупроводниковых пластин.</p>
<p>Одной из главных задач полупроводниковой техники является изготовление надежных приборов, способных работать в течение длительного времени. Хорошо известно, что электрические и оптические параметры электронных полупроводниковых приборов и их стабильность зависят от состояния поверхности полупроводниковых пластин [2, c. 4].</p>
<p>Обработка поверхности пластин полупроводников является очень важной в процессе производства интегральных схем различного назначения. Результаты подготовки подложек оказывают решающее влияние на получение различных структур и микроэлектронных изделий на их основе. Так, плохо очищенные полупроводниковые пластины могут являться некачественной подложкой для формирования на их основе наноразмерных структур. В зависимости от сложности получаемых изделий, операции очистки поверхности подложек занимают до трети общего количества всех технологических этапов изготовления полу­проводниковых изделий [3, с. 7 – 9].</p>
<p>К чистой поверхности пластин полупроводников предъявляются требования по минимальному содержанию различных загрязнений: органических, примесей металлов, механических частиц [4, c. 26].</p>
<p>Целью статьи является разработка технологического маршрута подготовки пластин полупроводника для дальнейшего его использования в качестве эпитаксиальных слоев.</p>
<p>Хорошо известно, что загрязнения на поверхности полупроводников могут носить органический и неорганический характер. Они могут представлять собой твердые и жидкие загрязнения, частицы и капли, вкрапления и остатки фоторезиста [5, c. 1].</p>
<p>Поверхность полупроводника характеризуется наличием огромного числа дефектов: дефекты упаковки, царапины, трещины, поверхностные дислокации, наколы и т.д.</p>
<p>Загрязнения (рис. 1) на поверхности кристалла присутствуют в виде ионов (катионы и анионы растворов), молекул (частицы материалов &#8211; цинк, никель, железо), атомов (пленки или частицы золота, серебра) [7, c. 185; 3, c. 10] . Кроме того, могут образовывать соединения с подложкой (например, оксиды).</p>
<p style="text-align: center;"><a href="https://technology.snauka.ru/2015/01/5408/1-65" rel="attachment wp-att-5409"><img src="https://technology.snauka.ru/wp-content/uploads/2015/01/1.jpg" alt="рис 1" width="590" height="336" /></a></p>
<p align="center"><em>Рис 1. Классификация загрязнений по типу взаимодействия с поверхностью</em></p>
<p>Электрические и оптические параметры электронных полупроводниковых приборов и их стабильность зависят от состояния поверхности полупроводниковых пластин [2, c. 5]. Кроме того, загрязнения являются одной из причин дефектов полупроводника. Это оказывает значительное влияние на характеристики изготовляемых микроэлектронных изделий (табл. 1).</p>
<p>При этом необходимо учитывать, что наибольшую опасность при обработке и хранении образцов представляют собой следующие факторы:</p>
<p>- оборудование;</p>
<p>- персонал,</p>
<p>- воздух.</p>
<p>Подобные источники загрязнений носят характер неконтролируемых или слабо контролируемых.</p>
<p>Поэтому с целью минимизирования количества подобного рода загрязнений на предприятиях и в лабораториях вводят определенные меры: чистые комнаты, стерилизация, спецодежда, вентиляция с ламинарным потоком воздуха, безконтактные методы обработки пластин, удаленное управление технологическими процессами.</p>
<p>Табл. 1. Влияние загрязнения на характеристики микроэлектронных изделий, изготовляемых на основе полупроводника</p>
<table width="100%" border="1" cellspacing="0" cellpadding="0">
<tbody>
<tr>
<td valign="top" width="33%">Тип загрязнения</td>
<td valign="top" width="33%">Примеры загрязнений</td>
<td valign="top" width="33%">Влияние на характеристики прибора</td>
</tr>
<tr>
<td valign="top" width="33%">Механические загрязнения</td>
<td valign="top" width="33%">органические вещества, металлические примеси, оксиды</td>
<td valign="top" width="33%">разлагаются при нагревании; под действием ионной и электронной бомбардировки могут выделять газообразные продукты, что ухудшает условия роста эпитаксиальных слоев, пористых структур</td>
</tr>
<tr>
<td valign="top" width="33%">Металлические загрязнения</td>
<td valign="top" width="33%">тяжелые металлы – Fe, Cu, Ni, Zn и др.</td>
<td valign="top" width="33%">диффундируют вглубь кристалла, при этом образуют энергетические уровни в запрещенной зоне. Это приводит к увеличению токов утечки</td>
</tr>
<tr>
<td valign="top" width="33%">Микронеровности поверхности</td>
<td valign="top" width="33%">Шероховатость</td>
<td valign="top" width="33%">Значительно ухудшается качество диэлектрического слоя</td>
</tr>
<tr>
<td valign="top" width="33%">Дефекты кристалла</td>
<td valign="top" width="33%">Поры, включения у поверхности, окислительные дефекты упаковки, сегрегационные полосы</td>
<td valign="top" width="33%">Снижают плотность тока интегральных схем, затруднят проведение химической и электрохимической обработки, значительно снижают качество материала</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p>Методы очистки полупроводниковых пластин условно можно разделить на физические и химические (табл. 2).</p>
<p>Табл. 2. Методы очистки и обезжиривания образцов</p>
<table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0">
<tbody>
<tr>
<td valign="top" width="319">Физические методы очистки</td>
<td valign="top" width="319">Химические методы очистки</td>
</tr>
<tr>
<td valign="top" width="319">- растворение,</p>
<p>- отжиг,</p>
<p>- обработка поверхности ионами инертных газов,</p>
<p>- механическое удаление загрязнений,</p>
<p>- физическое обезжиривание</td>
<td valign="top" width="319">- травление, о</p>
<p>- химическое обезжиривание,</p>
<p>- жидкостная очистка,</p>
<p>- сухая очистка (плазмохимическое, газовое  травление),</p>
<p>- химическое и электрохимическое травление</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p>Таким образом, подготовка образцов должна проводиться системно, с использованием как физических, так и химических методов очистки.</p>
<p>Ниже приведены основные этапы технологического маршрута очистки полупроводниковых пластин:.</p>
<p>1) шлифовка образцов алмазным порошком;</p>
<p>2) очищение пластин толуолом, этанолом и изопропанолом;</p>
<p>3) обезжиривание в горячем (75-80°С) перекисно-аммиачном растворе;</p>
<p>4) промывание в проточной деионизированной воде (удаление продуктов реакции предыдущей обработки);</p>
<p>5) обработка в горячей (90-100°С) концентрированной азотной кислоте (удаление ионов металлов);</p>
<p>6) гидродинамическая обработка пластин бельичими кистями в струе деионизированной воды;</p>
<p>7) сушка пластин с помощью центрифуги в струе очищенного сухого воздуха.</p>
<p>8) химическое или электрохимическое травление (химическая полировка пластин,</p>
<p>9) сульфидирование поверхности кристалла (пассивация).</p>
<p>Следует отметить, что некоторые этапы предварительной очистки можно опустить, в зависимости от предъявляемой чистоты поверхности пластин. И напротив, для специфических условий могут быть добавлены дополнительные промежуточные этапы подготовки пластин.</p>
<p>В процессе изготовления микроэлектронных устройств поверхность кристалла подвергается загрязнению от различных источников. Количество загрязнений не всегда можно контролировать, так как этот полупроводниковая пластина не является закрытой системой, постоянно взаимодействуя с внешней средой. Очистка полупроводниковых пластин является важной технологической задачей. В работе рассмотрены основные виды загрязнений и приведен технологический маршрут подготовки кристаллических образцов.</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://technology.snauka.ru/2015/01/5408/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Изменение функциональности гидроагрегатов мобильных машин в зависимости от обводненности рабочих жидкостей</title>
		<link>https://technology.snauka.ru/2015/02/5677</link>
		<comments>https://technology.snauka.ru/2015/02/5677#comments</comments>
		<pubDate>Mon, 16 Feb 2015 18:40:50 +0000</pubDate>
		<dc:creator>Рылякин Евгений Геннадьевич</dc:creator>
				<category><![CDATA[Общая рубрика]]></category>
		<category><![CDATA[hydraulic actuator]]></category>
		<category><![CDATA[pollution]]></category>
		<category><![CDATA[temperature conditions]]></category>
		<category><![CDATA[transport technological machines]]></category>
		<category><![CDATA[water]]></category>
		<category><![CDATA[working liquid]]></category>
		<category><![CDATA[вода]]></category>
		<category><![CDATA[гидропривод]]></category>
		<category><![CDATA[Загрязнения]]></category>
		<category><![CDATA[рабочая жидкость]]></category>
		<category><![CDATA[температурные условия]]></category>
		<category><![CDATA[транспортно-технологические машины]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://technology.snauka.ru/?p=5677</guid>
		<description><![CDATA[Вода в рабочей жидкости гидропривода транспортно-технологических машин наносит существенный вред работе узлов и деталей гидроагрегатов, особенно в условиях эксплуатации в России, где колебание температур в летний и зимний период достигает 100оС. Ухудшается смазывающая способность рабочей жидкости, повышаются энергетические затраты на передачу усилия и крутящего момента на исполнительные механизмы гидропривода, усиливается коррозионная активность масел, активизируется окисление [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>Вода в рабочей жидкости гидропривода транспортно-технологических машин наносит существенный вред работе узлов и деталей гидроагрегатов, особенно в условиях эксплуатации в России, где колебание температур в летний и зимний период достигает 100<sup>о</sup>С. Ухудшается смазывающая способность рабочей жидкости, повышаются энергетические затраты на передачу усилия и крутящего момента на исполнительные механизмы гидропривода, усиливается коррозионная активность масел, активизируется окисление углеводородов, интенсивнее образуются в масле кислоты и щелочи, снижается действие присадок в масле.</p>
<p>Как показывают наши исследования – повышается интенсивность изнашивания трущихся поверхностей деталей в масляной среде в присутствии эмульсионной воды. В практике эксплуатации машин в транспортном комплексе попадание воды в масло является обычным явлением. Вода значительно снижает долговечность, например, шариков подшипников качения из стали ШХ-15, причем, время до выкрашивания металла сокращается с увеличением концентрации воды в масле [1]. Температура масла при эксплуатации машин отличается от температуры воздуха, а перепад температуры влияет на изменение концентрации воды в масле. При резком понижении температуры вода из масла не успевает перейти в воздух и выделяется в виде микрокапель, образуя свободную воду, которая находится в равновесии с растворимой в нем водой.</p>
<p>Под воздействием неблагоприятных климатических факторов, определяющим из которых является температура окружающего воздуха, доля отказов шестеренных насосов обусловленных повышенным износом корпусных деталей возрастает. [2]</p>
<p>До настоящего времени не установлено количественной связи между температурой и интенсивностью изнашивания. Более того, среди исследователей нет единого мнения о том, увеличивается или уменьшается интенсивность изнашивания при понижении температуры. Большинство ученых все же считают, что с понижением температуры интенсивность изнашивания увеличивается.</p>
<p>Низкие температуры воздуха вызывают многократное увеличение вязкости смазочных материалов и технических жидкостей. Такое увеличение вязкости смазочных материалов снижает их жидкотекучесть, в результате чего поступление смазочных материалов к узлам трения затрудняется или может полностью прекратиться. Под действием низких температур влага, содержащаяся в смазочных материалах, кристаллизуется, что вместе с изменением свойств самих материалов снижает их смазывающие свойства (например, снижается свойство прилипаемости масла к металлическим поверхностям) и, тем самым, провоцирует возникновение сухого или полусухого режима трения и, как результата, повышения интенсивности изнашивания.</p>
<p>Образование микрокапель воды возможно при потеплении воздуха. В этом случае масло имеет более низкую температуру и водяные пары конденсируются на его поверхности, а затем проникают в глубь нефтепродукта. При охлаждении масла насыщенного водой с 50 до 20°С, в нем образуются микрокапли воды со средним диаметром 0,6&#8230;0,7 мкм. С течением времени они укрупняются и постепенно осаждаются на дне резервуаров, образуя отстойную воду.</p>
<p>Присутствие воды в маслах приводит к ухудшению их смазывающей способности, усилению коррозионного воздействия масел на металлы, активации процессов окисления входящих в состав углеводородов, усилению водородного разрушения поверхностных слоев трущихся сопряжений. Практически все трущиеся поверхности деталей из стали, чугуна, титана и других металлических материалов имеют повышенное содержание водорода, а это рано или поздно сказывается, особенно во влажном и холодном климате.</p>
<p>Известно, например, что техника на Севере изнашивается в несколько раз быстрее, чем в средней зоне. Это связано с тем, что при низких температурах и при повышенной влажности атмосферы водород оказывает более разрушительное действие на поверхности трения деталей. При недостаточной гидролитической устойчивости масла, присутствие воды приводит к образованию кислот, щелочей и других веществ, способных существенно ухудшить его свойства. Вода способствует микробиологическому заражению масел, что ведет к их частичному разложению, изменению вязкости и ухудшению смазывающей способности.</p>
<p>Микрокапли воды в смазывающем слое масла отрицательно влияют на процесс трения между сопряженными поверхностями. Разрыв масляной пленки особенно ярко проявляется в теплонапряженных узлах, вода может испаряться, вызывая сухое трение между поверхностями деталей, резко ухудшая противоизносные свойства масел [3].</p>
<p>Снижение вязкости масла способствует повышенному выкрашиванию рабочей части зубьев шестерен, т.к. водомасляная эмульсия с понижением вязкости легче проникает в микротрещины, имеющиеся на поверхностях трения, и разрушает материал зубьев, действуя как гидравлический клин.</p>
<p>Способность воды к проникновению в микротрещины объясняется меньшими величинами ее молекул по сравнению с углеводородами.</p>
<p>Уменьшить интенсивность изнашивания, снизить силы трения в зоне контакта деталей гидрооборудования можно за счет применения более совершенных конструкций фильтроэлементов, строгого выполнения технико-эксплуатационных требований и оптимизацией температуры рабочей жидкости.</p>
<p>Поддерживая температуру в оптимальном диапазоне (+40<sup>о</sup>С…+60<sup>о</sup>С), можно существенно снизить вероятность возникновения отказов и неисправностей гидрооборудования.</p>
<p>Для реализации указанной цели нами была разработана и запатентована  система регулирования температуры рабочей жидкости гидросистемы [4,5]. Ее можно применять как для подогрева, так и для охлаждения масла в условиях пониженных или повышенных температур.</p>
<p>Система работает следующим образом. При низких температурах окружающего воздуха гидронасос будет нагнетать рабочую жидкость гидросистемы во внутреннюю полость теплообменника из бака через всасывающую гидролинию, гидравлический клапан, золотник и напорную гидролинию. Поступая через подводящий штуцер во внутреннюю полость теплообменника, рабочая жидкость нагревается обтекая змеевик, через который пропускается моторное масло двигателя, имеющее рабочую температуру 80…90°С. Затем, масло из теплообменника, через отводящий штуцер, по сливной гидролинии поступает в бак.</p>
<p>По мере нагрева масла в баке золотник займет исходное положение, направляя поток жидкости моторного масла двигателя в обход змеевика по нагнетательной гидролинии системы смазки ДВС с масляным радиатором, а рабочую жидкость к агрегатам гидросистемы.</p>
<p>При разогреве рабочей жидкости свыше 60°С, золотник втянется в катушку, открывая нагнетательную пневмолинию. Вентилятор начинает нагнетать воздух во внешнюю полость теплообменника 5. Воздух, проходимый во внешней полости, увеличивает интенсивность теплообмена. Затем, через отводящий штуцер воздух выводится в атмосферу.</p>
<p>После охлаждения жидкости до оптимальных значений, золотник  вернется в исходное положение и перекроет подачу воздуха от вентилятора. Управление положением золотника осуществляется при помощи подпружиненной конусной втулки гидравлического клапана, которая замыкает соответствующие электроконтакты реле, о чем своевременно сигнализируют лампочки. Контроль температуры РЖ в баке осуществляется при помощи  установленного в нем термодатчика.</p>
<p>Эффективность работоспособности предложенной системы была подтверждена в результате проведенных стендовых и эксплуатационных исследований.</p>
<p>Улучшение работоспособности гидропривода за счет поддержания рационального температурного режима рабочей жидкости при эксплуатации транспортно-технологических машин представляется достаточно эффективным средством, позволяющим наиболее полно реализовать его потенциальные возможности.</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://technology.snauka.ru/2015/02/5677/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>
