,                                                        (1.6.)

где  – начальная интенсивность гамма-излучения; I – интенсивность гамма-излучения, прошедшего через слой измеряемой среды толщиной d и плотностью ;  – массовый коэффициент поглощения гамма-излучения [6].
Анализируя радиометрические методы для определения плотности и в частности объемной плотности сыпучих материалов, можно судить об их наибольшей эффективности и точности в сравнении с остальными методами и средствами измерений. Однако все эти способы обладают рядом схожих недостатков, заключающихся в следующем.
Способы подходят для однородных по составу сыпучих материалов с плотностями, отличающимися незначительно, и не подходит для грузопотоков со случайным непрерывным распределением плотности на конвейере. При этом обладают погрешностями измерений в связи с увеличением количества веществ в составе исследуемого объекта, имеющих сложную молекулярную структуру с заранее неизвестными плотностями и коэффициентами ослабления первичного излучения.
При анализе погрешностей измерений объемной плотности выявлено, что случайная составляющая погрешности измерений обусловлена в основном случайным характером процессов излучения, взаимодействия с контролируемой средой и регистрации квантов гамма-излучения. Для уменьшения погрешности до требуемого значения, при расчете необходимого объема накопленных при регистрации гамма-излучения данных, необходимо исходить только из информативной (полезной) составляющей сигналов блоков детектирования, а не из суммы полезного и фонового сигналов.
Случайные погрешности возникают также в результате многократного преобразования сигнала измерительной информации.
Систематическая составляющая погрешности измерений каналами прямого и рассеянного гамма-излучений обусловлена нелинейностью выходных сигналов блоков детектирования, вызванных неточностями при первичном градуировании физических характеристик контролируемых сред.
Систематические погрешности вызваны также рядом других факторов, влияющих на точность и стабильность градуировочных характеристик, в частности, старение элементов системы, дрейф электроники, изменение температуры окружающей среды, уменьшение интенсивности гамма-излучения и т. д.