УДК 681.787.7
ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СПЕКТРОАНАЛИЗАТОРА ПРОСТРАНСТВЕННЫХ СИГНАЛОВ
Тымчик С.Г.
Национальный технический университет Украины «Киевский политехнический институт»
преподаватель
АннотацияВ настоящей статье предложен способ определения разрешающей способности спектроанализатора пространственных сигналов с помощью двухчастотной синусоидальной дифракционной решётки.Ключевые слова: дифракция, погрешность, спектроанализатор, фаза, частота
ESTIMATION OF A SPATIAL SPECTRUM ANALYZER'S RESOLVING POWER
Tymchik S.G.
National Technical University of Ukraine «Kyiv Polytechnic Institute»
lecturer
AbstractThe method of a spatial spectrum analyzer's resolving power estimation through the use of a double-frequency sinusoidal grating has been proposed in this article.Keywords: diffraction, fault, frequency, phase, spectrum analyzer
Библиографическая ссылка на статью:
Тымчик С.Г. Определение разрешающей способности спектроанализатора пространственных сигналов // Современная техника и технологии. 2013. № 12 [Электронный ресурс]. URL: https://technology.snauka.ru/2013/12/2778 (дата обращения: 16.01.2025).
Оптическая система такого спектроанализатора выполнена по схеме «входной транспарант расположен за фурье – объективом» (рис. 1). В этой системе поток когерентного излучения лазера 1 расширяется телескопической системой 2 до размеров

Рис.1
апертуры входного транспаранта 3, который служит для полутоновой записи исследуемого сигнала
t(x1,y1). На транспаранте 3 световой поток дифрагирует, и фурье – объективом 4 в плоскости
5 спектрального анализа формируется дифракционное изображение исследуемого сигнала. Распределение светового поля в дифракционном изображении описывается выражением [1,2]
(1)
где A – амплитуда световой волны в плоскости входного транспаранта; λ – длина волны излучения лазера; f – фокусное расстояние фурье – объектива. Поскольку ядром интегрального преобразования (1) является функция
то функция
U(x1,y1) описывает спектр сигнала
t(x1,y1), пространственные частоты которого равны
Для определения разрешающей способности

спектроанализатора будем поочерёдно помещать в плоскости
3 амплитудные спектральные
решётки с коэффициентом пропускання
(2)

Рис. 2
где
– пространственная частота, на которой определяется разрешающая способность; 2
- пространственно – частотный интервал раздельного формирования максимумов спектра сигнала;
rect – функция апертуры решёток, равная:
1 при
≤ 
и
0 при
> 

;
l - длина стороны апертуры решёток.
Подставив (2) в (1) и выполнив интегрирование, получим
(3)
где
sinc x = sinc πx/πx.
Так как фотометрические устройства регистрации параметров спектра реагируют на освещённость
Е, пропорциональную квадрату амплитуды
U световой волны, то, возводя (3) в квадрат, получим
(4)
Выбрав период
1/(
±
) решётки много меньше размеров
l её апертуры, двумя последними слагаемыми, содержащими произведение двух
sinc- функций, можно пренебречь. Из оставшихся: первое слагаемое описывает спектр апертуры решётки с частотами
±
, второе и третье – спектр периодической структуры решётки с частотами
±
. Спектр периодической структуры решётки содержит два максимума, пространственное расстояние между которыми равно ±(
±
)λf, а ширина их пропорциональна
λf/l.
Нормированное распределение освещённости в этих максимумах для частот
+
, показанное на рис 2, описывается выражениями
(5)
(6)
Следуя критерию разрешения Реллея [ 3,4], уравнения (5) и (6) путём алгебраических преобразований можно свести к системе двух уравнений
,
(7)
общим решением которых будет зависимость
(8)
Таким образом, минимальное расстояние
между максимумами спектра синусоидального сигнала, амплитуды которых формируются оптической системой спектроанализатора раздельно, ограничено размером
l апертуры решётки, т.е. входного транспаранта
3. Как видно из (8), разрешающая способность
постоянна в плоскости
5 спектрального анализа и определяется лишь размером апертуры
l входного транспаранта . Величина апертуры
l транспаранта может быть легко и точно измерена обычной линейкой или штангенциркулем.
Библиографический список
- Акаев А. А., Майоров С. А. Оптические методы обработки информации. – СПБ.: СПбГУ ИТМО, 2005. – 260 с.
- Назаров В.Н., Соколов Ю.А. Исследование схемы дифракционного контроля положений объектов с изменяющимся масштабом спектра Фурье // Научно-технический вестник СПбГУ ИТМО. – 2011. –№ 1 (71). – С. 6–9.
Все статьи автора «Тымчик Григорий Семенович»