<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>Электронный научно-практический журнал «Современная техника и технологии» &#187; Александр Запевалин</title>
	<atom:link href="http://technology.snauka.ru/author/Harkonen/feed" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>https://technology.snauka.ru</link>
	<description></description>
	<lastBuildDate>Fri, 30 Jan 2026 18:56:12 +0000</lastBuildDate>
	<language>en</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.2.1</generator>
		<item>
		<title>Lag effects in the plasma etching of silicon</title>
		<link>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3972</link>
		<comments>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3972#comments</comments>
		<pubDate>Sun, 08 Jun 2014 15:05:22 +0000</pubDate>
		<dc:creator>Александр Запевалин</dc:creator>
				<category><![CDATA[Common rubric]]></category>
		<category><![CDATA[Bosch-process]]></category>
		<category><![CDATA[Bosch-процесс]]></category>
		<category><![CDATA[Lag effect.]]></category>
		<category><![CDATA[эффект запаздывания.]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://technology.snauka.ru/?p=3972</guid>
		<description><![CDATA[Sorry, this article is only available in Русский.]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>Sorry, this article is only available in <a href="https://technology.snauka.ru/author/Harkonen/feed">Русский</a>.</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3972/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>An overview of high-Aspect process silicon etching</title>
		<link>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3970</link>
		<comments>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3970#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 12 Jun 2014 15:19:01 +0000</pubDate>
		<dc:creator>Александр Запевалин</dc:creator>
				<category><![CDATA[Common rubric]]></category>
		<category><![CDATA[Bosch-process]]></category>
		<category><![CDATA[Bosch-процесс]]></category>
		<category><![CDATA[cryogenic process]]></category>
		<category><![CDATA[DRIE]]></category>
		<category><![CDATA[RIE]]></category>
		<category><![CDATA[криогенный процесс]]></category>
		<category><![CDATA[Реактивно-ионное травление]]></category>
		<category><![CDATA[РИТ]]></category>

		<guid isPermaLink="false">https://technology.snauka.ru/?p=3970</guid>
		<description><![CDATA[Sorry, this article is only available in Русский.]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>Sorry, this article is only available in <a href="https://technology.snauka.ru/author/Harkonen/feed">Русский</a>.</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>https://technology.snauka.ru/en/2014/06/3970/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>
